Фізико-хімічні основи методів створення та аналізу точкових дефектів у напівпровідниках : Навч. посібник / В.П.Махній, М.Д.Раранський.

За:

Інтелектуальна відповідальність:

Вид матеріалу:

Текст Мова: українська Публікація: Чернівці : Рута, 2003.Опис: 136 сISBN:

Тематика(и):

Інша класифікація:

Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.

Фонди
Тип одиниці зберігання	Поточна бібліотека	Стан
Книга, брошура	Відділ документів із економічних, технічних та природничих наук (О.Кобилянської, 47)	Доступно
Книга, брошура	Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47)	Доступно

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.