Рентгенодифракційні дослідження структурних змін в кристалах Si, після високоенергетичного електронного опромінення : Автореферат дисертації / П. Є. Мармус ; ЧДУ ім. Ю.Федьковича.

За:

Інтелектуальна відповідальність:

Вид матеріалу:

Текст Мова: українська Публікація: Чернівці : [б. в.], 1999.Опис: 20 сТематика(и):

Інша класифікація:

Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.

Фонди
Тип одиниці зберігання	Поточна бібліотека	Шифр зберігання	Стан
Книга, брошура	Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47)	22.37 (Огляд полиці(Відкривається нижче))	Доступно

Попереднє	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне	Наступне
Попереднє	81.411.1 Лексика сучасної української мови : Лабораторні завдання /	81.432.1 Англомовна термінологія фінансово-економічних взаємин : Автореферат дисертації /	87.6 Філософія, соціологія та глобальні проблеми сучасності : Тести /	22.37 Рентгенодифракційні дослідження структурних змін в кристалах Si, після високоенергетичного електронного опромінення : Автореферат дисертації /	30.3 Матеріалознавство : Метод. рекомендації до лабораторних робіт /	74.262.9 Методика викладання інформатики /	30.10 Метрологія. Елементи вимірювань : Конспект лекцій /	Наступне

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.