Зображення з Amazon.com
Фізико-хімічні основи методів створення та аналізу точкових дефектів у напівпровідниках : Навч. посібник / В.П.Махній, М.Д.Раранський.
Вид матеріалу:
Текст Мова: українська Публікація: Чернівці : Рута, 2003.Опис: 136 сISBN: - 9665685686
- 22.379
- 22.379.2я73
| Тип одиниці зберігання | Поточна бібліотека | Шифр зберігання | Стан | |
|---|---|---|---|---|
| Книга, брошура | Відділ документів із економічних, технічних та природничих наук (О.Кобилянської, 47) | 22.379 (Огляд полиці(Відкривається нижче)) | Доступно | |
| Книга, брошура | Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47) | 22.379 (Огляд полиці(Відкривається нижче)) | Доступно |
Огляд полиці бібліотеки/підрозділу: „Відділ документів із економічних, технічних та природничих наук (О.Кобилянської, 47)“ Зачинити оглядач полиці (Зачинити оглядач полиці)
Немає коментарів для цієї одиниці.
Увійти в обліковий запис для можливості публікувати коментарі.