Фізико-хімічні основи методів створення та аналізу точкових дефектів у напівпровідниках : Навч. посібник / В.П.Махній, М.Д.Раранський.

За:

Інтелектуальна відповідальність:

Вид матеріалу:

Текст Мова: українська Публікація: Чернівці : Рута, 2003.Опис: 136 сISBN:

Тематика(и):

Інша класифікація:

Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.

Фонди
Тип одиниці зберігання	Поточна бібліотека	Шифр зберігання	Стан
Книга, брошура	Відділ документів із економічних, технічних та природничих наук (О.Кобилянської, 47)	22.379 (Огляд полиці(Відкривається нижче))	Доступно
Книга, брошура	Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47)	22.379 (Огляд полиці(Відкривається нижче))	Доступно

Попереднє	Зображення обкладинки не доступне				Зображення обкладинки не доступне		Зображення обкладинки не доступне	Наступне
Попереднє	81.432.1 Канада, Австралія, Нова Зеландія = Canada, Australia, New Zealand : Навч. посібник	74.580 Курсові та дипломні роботи з географії : Навч. посіб. /	95.4 П'ятий конгрес Міжнародної асоціації україністів : 26-29 серпня 2002 р. Чернівці. Кн. 1 : Літературознавство : доповіді /	22.379 Фізико-хімічні основи методів створення та аналізу точкових дефектів у напівпровідниках : Навч. посібник /	22.183.4 Методи оптимізації : методичні вказівки та завдання до практичних занять. Ч. 2,	26.8 Науковий вісник Чернівецького університету : зб. наук. праць. Вип. 167 : Географія	28 Науковий вісник Чернівецького університету : зб. наук. праць. Вип. 169 : Біологія	Наступне

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.