Еліпсометрія як метод дослідження та контролю тонкоплівкових шарів : Навчальний посібник / В.В.Хомяк ; ЧНУ ім.Ю.Федьковича.

За:

Хомяк, В.В [Автор]

Інтелектуальна відповідальність:

ЧНУ ім.Ю.Федьковича

Вид матеріалу:

Текст Мова: українська Публікація: Чернівці : Рута, 2005.Опис: 62 сISBN:

9665687565

Тематика(и):

Фізика -- Напівпровідники -- Оптичні властивості -- Оптоелектроніка

Інша класифікація:

22.379.24
22.379.24я73
32.86я73

Зведення: У посібнику викладено використання методу еліпсометрії для дослідження та контролю технологічних процесів напівпровідникового виробництва різних структур. Наводяться результати еліпсометричних розрахунків для найбільш розповсюджених матеріалів і тонкоплівкових структур, які використовуються в електроніці. Для студентів, аспірантів інженерно-технічних спеціальностей вузів, фахівців з фізики, технології та конструювання напівпровідникових приладів.

Мітки з цієї бібліотеки: Немає міток з цієї бібліотеки для цієї назви. Ввійдіть, щоб додавати мітки.

Фонди
Тип одиниці зберігання	Поточна бібліотека	Шифр зберігання	Стан
Книга, брошура	Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47)	22.379.24 (Огляд полиці(Відкривається нижче))	Доступно

Огляд полиці бібліотеки/підрозділу: „Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47)“ Зачинити оглядач полиці (Зачинити оглядач полиці)

Попереднє	Зображення обкладинки не доступне	Зображення обкладинки не доступне			Зображення обкладинки не доступне		Зображення обкладинки не доступне	Наступне
Попереднє	84(4УКР=РОС) Я исповедь тебе пишу... : Поэзии /	28.02 Основи еволюційного вчення (мікроеволюція) : Навчальний посібник /	53(477.85) Професор Микола Ткач : бібліогр.; біограф. нарис /	22.379.24 Еліпсометрія як метод дослідження та контролю тонкоплівкових шарів : Навчальний посібник /	32.85 Маркетинг в електроніці : Курс лекцій. Ч. 1, /	85.313(4УКР-4ЧЕ Поклич пісні до мого серця... : щоденники, вірші, спогади /	85.113(4УКР-4ЧЕ Архитектура Черновиц ХІХ - первой половины ХХ века. Исследование стилистических особенностей архитектуры города и процесса её стилевой эволюции. (Специальность 17.00.04 - изобразительное и декоративно-прикладное искусство и архитектура) : Автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата искусствоведения /	Наступне

У посібнику викладено використання методу еліпсометрії для дослідження та контролю технологічних процесів напівпровідникового виробництва різних структур. Наводяться результати еліпсометричних розрахунків для найбільш розповсюджених матеріалів і тонкоплівкових структур, які використовуються в електроніці. Для студентів, аспірантів інженерно-технічних спеціальностей вузів, фахівців з фізики, технології та конструювання напівпровідникових приладів.

Немає коментарів для цієї одиниці.

для можливості публікувати коментарі.

Еліпсометрія як метод дослідження та контролю тонкоплівкових шарів : Навчальний посібник / В.В.Хомяк ; ЧНУ ім.Ю.Федьковича.

Огляд полиці бібліотеки/підрозділу: „Відділ зберігання та реставрації фондів (О.Кобилянської, 47)“ Зачинити оглядач полиці (Зачинити оглядач полиці)

Читачам

Контакти