22.379.24
Х-76

Хомяк, В.В.
      Еліпсометрія як метод дослідження та контролю тонкоплівкових шарів : Навчальний посібник / В.В.Хомяк ; ЧНУ ім.Ю.Федьковича. — Чернівці : Рута, 2005. — 62 с — ISBN: 966-568-756-5.

ББК 22.379.24
ББК 22.379.24я73
ББК 32.86я73

      Фізика -- Напівпровідники -- Оптичні властивості -- Оптоелектроніка.