| 000 | 00949nam a2200253 i 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | 966-568-568-6 | ||
| 003 | UA-CvRSL | ||
| 005 | 20250529115343.0 | ||
| 020 | _a9665685686 | ||
| 040 |
_aUA-CvRSL _bukr _cUA-CvRSL |
||
| 041 | 0 | _aukr | |
| 090 |
_a22.379 _xМ36 |
||
| 100 | 1 |
_aМахній, В.П. _eавтор |
|
| 245 | 0 | 0 |
_aФізико-хімічні основи методів створення та аналізу точкових дефектів у напівпровідниках : _bНавч. посібник / _cВ.П.Махній, М.Д.Раранський. |
| 260 |
_aЧернівці : _bРута, _c2003. |
||
| 300 | _a136 с | ||
| 650 | 0 | 4 | _aФізика напівпровідників.. |
| 084 |
_a22.379 _2rubbk |
||
| 084 |
_a22.379.2я73 _2rubbk |
||
| 700 | 1 |
_aРаранський, М.Д. _eавтор |
|
| 920 | _a966-568-568-6 | ||
| 942 |
_cBOOK _2rubbkn |
||
| 999 |
_c44206 _d44206 |
||